IEEE Std 1671.3-2017
Estándar IEEE para la descripción de la unidad bajo prueba (UUT) del lenguaje de marcado de prueba automática (ATML)

Estándar No.

IEEE Std 1671.3-2017

Fecha de publicación

2018

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE Std 1671.3-2017

Alcance

En este estándar se define un formato de intercambio que utiliza un lenguaje de marcado extensible (XML) tanto para la descripción estática de la unidad bajo prueba (UUT) como para la descripción específica de la información de instancia de UUT.

IEEE Std 1671.3-2017 Historia

• 2018 IEEE Std 1671.3-2017 Estándar IEEE para la descripción de la unidad bajo prueba (UUT) del lenguaje de marcado de prueba automática (ATML)
• 2008 IEEE Std 1671.3-2007 Estándar IEEE para lenguaje de marcado automático de pruebas (ATML) para el intercambio de información de pruebas automáticas a través de XML (lenguaje de marcado extensible): intercambio de información de descripción de UUT (unidad bajo prueba)