BS IEC 62047-32:2019
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos: método de prueba para la vibración no lineal de resonadores MEMS

Estándar No.

BS IEC 62047-32:2019

Fecha de publicación

2019

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS IEC 62047-32:2019

Alcance

¿De qué se trata BS IEC 62047 - 32 - Pruebas de resonador MEMS? Los resonadores MEMS son pequeñas estructuras electromecánicas que vibran a altas frecuencias. Se utilizan para referencias de tiempo, filtrado de señales, detección de masas, detección biológica, detección de movimiento y otras aplicaciones diversas. BS IEC 62047 - 32 es parte de la serie IEC 62047 sobre dispositivos semiconductores. BSIEC 62047 - 32

BS IEC 62047-32:2019 Historia

• 2019 BS IEC 62047-32:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos: método de prueba para la vibración no lineal de resonadores MEMS