EN 60749-43:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para planes de calificación de confiabilidad de circuitos integrados.

Estándar No.

EN 60749-43:2017

Fecha de publicación

2017

Organización

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Ultima versión

EN 60749-43:2017

Alcance

IEC 60749-43:2017 proporciona directrices para los planes de calificación de confiabilidad de productos de circuitos integrados (CI) semiconductores. Este documento no está destinado a aplicaciones militares y espaciales.

EN 60749-43:2017 Historia

• 2017 EN 60749-43:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para planes de calificación de confiabilidad de circuitos integrados.