CSN IEC 749:1994
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos.

Estándar No.

CSN IEC 749:1994

Fecha de publicación

1994

Organización

CZ-CSN

Estado

Ultima versión

CSN IEC 749:1994

Alcance

Procesador: SVAS, as, Ro?nov pod Radho?tem, I?O 15503496 - Ing. Dagmar Balá?ová Inspección Nacional de Supervisión: Elektrotechnick? Instituto de Pruebas, Praga, I?O 001 481 Empleada del Instituto Checo de Normalización: Ing, Marie ?ivcová

CSN IEC 749:1994 Historia

• 1994 CSN IEC 749:1994 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos.