T/IAWBS 004-2021
Requisitos generales y métodos de prueba para pruebas de confiabilidad de módulos semiconductores de potencia utilizados en vehículos eléctricos (Versión en inglés)
- Estándar No.
- T/IAWBS 004-2021
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2021
- Organización
- Group Standards of the People's Republic of China
- Ultima versión
- T/IAWBS 004-2021
- Alcance
- Este documento especifica los requisitos de inspección funcional, los requisitos de prueba de confiabilidad y los métodos de prueba antes de la prueba de confiabilidad de dispositivos semiconductores de potencia para vehículos eléctricos. Este documento también proporciona requisitos de prueba especiales para dispositivos semiconductores de banda ancha para automóviles, como los dispositivos de transistores de efecto de campo basados en carburo de silicio. Este documento se aplica a dispositivos semiconductores de potencia (dispositivos o módulos discretos), incluidos, entre otros, transistores bipolares de puerta aislada (IGBT), transistores de efecto de campo de óxido metálico (MOSFET) y dispositivos de diodo. Este documento puede proporcionar orientación para las pruebas de tipo de confiabilidad y el diseño e inspección de confiabilidad de dispositivos semiconductores de potencia para vehículos eléctricos.
T/IAWBS 004-2021 Historia
- 2021 T/IAWBS 004-2021 Requisitos generales y métodos de prueba para pruebas de confiabilidad de módulos semiconductores de potencia utilizados en vehículos eléctricos
