DB52/T 1104-2016
Método de prueba transitorio para la resistencia térmica de la caja de unión de dispositivos semiconductores. (Versión en inglés)

Estándar No.

DB52/T 1104-2016

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2016

Organización

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

DB52/T 1104-2016

DB52/T 1104-2016 Historia

• 2016 DB52/T 1104-2016 Método de prueba transitorio para la resistencia térmica de la caja de unión de dispositivos semiconductores.