SJ/T 11702-2018
Método de prueba de interfaz periférica serie de circuito integrado semiconductor (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11702-2018

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2018

Organización

工业和信息化部

Ultima versión

SJ/T 11702-2018

SJ/T 11702-2018 Historia

• 2018 SJ/T 11702-2018 Método de prueba de interfaz periférica serie de circuito integrado semiconductor