BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
1 Alcance Este documento describe un procedimiento para la caracterización cuantitativa de la punta de una sonda de microscopio de fuerza atómica (AFM) y una restauración de imágenes de topografía AFM dilatadas por un tamaño de sonda finito. La forma tridimensional del ápice de la sonda se extrae mediante reconstrucción de imágenes utilizando materiales de referencia adecuados. Este documento es aplicable a la reconstrucción de imágenes topográficas AFM de superficies de materiales sólidos.
BS ISO 23729:2022 Historia
2022BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito