DIN EN IEC 60749-41:2023-03
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles (IEC 60749-41:2020); Versión alemana EN IEC 60749-41:2020

Estándar No.

DIN EN IEC 60749-41:2023-03

Fecha de publicación

2023

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN EN IEC 60749-41:2023-03

DIN EN IEC 60749-41:2023-03 Historia

• 2023 DIN EN IEC 60749-41:2023-03 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles (IEC 60749-41:2020); Versión alemana EN IEC 60749-41:2020