BS IEC 63284:2022
Dispositivos semiconductores. Método de prueba de confiabilidad mediante conmutación de carga inductiva para transistores de nitruro de galio

Estándar No.

BS IEC 63284:2022

Fecha de publicación

2022

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS IEC 63284:2022

BS IEC 63284:2022 Historia

• 2022 BS IEC 63284:2022 Dispositivos semiconductores. Método de prueba de confiabilidad mediante conmutación de carga inductiva para transistores de nitruro de galio