UNE-EN 62373:2006
Prueba de estabilidad de temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET) (IEC 62373:2006). (Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)

Estándar No.

UNE-EN 62373:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

ES-UNE

Ultima versión

UNE-EN 62373:2006

UNE-EN 62373:2006 Historia

• 2006 UNE-EN 62373:2006 Prueba de estabilidad de temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET) (IEC 62373:2006). (Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)