EN 60749-29:2003
Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 29: Prueba de enganche

Estándar No.

EN 60749-29:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization

Estado

Remplazado por

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Ultima versión

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EN 60749-29:2003 Historia

• 2011 EN 60749-29:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 29: Prueba de enganche.
• 2003 EN 60749-29:2003 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 29: Prueba de enganche