UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.

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Fecha de publicación

2011

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AENOR

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• 2011 UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.
• 2005 UNE-EN 60749-23:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.