IEEE 641-1987
DEFINICIONES ESTÁNDAR Y CARACTERIZACIÓN DE Matrices de semiconductores de óxido de nitruro metálico

Estándar No.

IEEE 641-1987

Fecha de publicación

1987

Organización

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Ultima versión

IEEE 641-1987

IEEE 641-1987 Historia

• 1987 IEEE 641-1987 DEFINICIONES ESTÁNDAR Y CARACTERIZACIÓN DE Matrices de semiconductores de óxido de nitruro metálico