T/CSTM 00751-2022 Medición de propiedades dieléctricas de materiales dieléctricos de estado sólido en el rango de frecuencia de microondas: método de cavidad cerrada (Versión en inglés)
Este documento especifica el método para medir la constante dieléctrica y la tangente de pérdida de dieléctricos sólidos y materiales de placas compuestas con frecuencias en el rango de 1 GHz a 20 GHz utilizando el método de cavidad cerrada. Entre ellos, el rango de prueba de la constante dieléctrica es 5~100, y el rango de prueba del valor de la tangente de pérdida es 0,00005~0,005. Este documento es aplicable a la medición de la constante dieléctrica y la tangente de pérdida de materiales inorgánicos como óxido de silicio, óxido de aluminio, nitruro de aluminio, óxido de circonio, nitruro de boro y materiales compuestos orgánicos-inorgánicos que pueden procesarse en formas de columnas.
T/CSTM 00751-2022 Historia
2022T/CSTM 00751-2022 Medición de propiedades dieléctricas de materiales dieléctricos de estado sólido en el rango de frecuencia de microondas: método de cavidad cerrada