DIN 50450-2:1991-03
Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; determinación de impureza de oxígeno en N<(Index)2>, Ar, He, Ne y H<(Index)2> mediante el uso de una celda galvánica

Estándar No.

DIN 50450-2:1991-03

Fecha de publicación

1991

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN 50450-2:1991-03

DIN 50450-2:1991-03 Historia

• 1991 DIN 50450-2:1991-03 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; determinación de impureza de oxígeno en N<(Index)2>, Ar, He, Ne y H<(Index)2> mediante el uso de una celda galvánica
• 1991 DIN 50450-2:1991 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación de impurezas en gases portadores y gases dopantes; Determinación de impurezas de oxígeno en N, Ar, He, Ne y H mediante el uso de una celda galvánica.