UNE-EN 60749-35:2006
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

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UNE-EN 60749-35:2006

Fecha de publicación

2007

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ES-UNE

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UNE-EN 60749-35:2006

UNE-EN 60749-35:2006 Historia

• 2007 UNE-EN 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)