UNE-EN IEC 60749-41:2020
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 41: Métodos estándar de prueba de confiabilidad de dispositivos de memoria no volátil (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)
- Estándar No.
- UNE-EN IEC 60749-41:2020
- Fecha de publicación
- 2020
- Organización
- ES-UNE
- Ultima versión
- UNE-EN IEC 60749-41:2020
UNE-EN IEC 60749-41:2020 Historia
- 2020 UNE-EN IEC 60749-41:2020 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 41: Métodos estándar de prueba de confiabilidad de dispositivos de memoria no volátil (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)
