IEEE C37.26-2003
Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje

Estándar No.

IEEE C37.26-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Estado

 2014-10

Remplazado por

IEEE C37.26-2014

Ultima versión

IEEE C37.26-2014

Alcance

Esta guía describe tres métodos utilizados en la medición del factor de potencia de circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 voltios y menos). Estos métodos pueden usarse a cualquier frecuencia, sin embargo@ los valores en las tablas son específicamente para 60 Hz. circuitos de prueba. Estos métodos son: 1) Método de relación 2) Método de disminución de CC 3) Método de relación de fase La Tabla 1 enumera el método preferido que se utilizará para diferentes niveles de corrientes de prueba y para diferentes niveles de factor de potencia. Si bien esta guía está diseñada principalmente para su uso en Circuitos de prueba de bajo voltaje @ los métodos discutidos también se pueden utilizar en voltajes más altos.

IEEE C37.26-2003 Historia

• 2014 IEEE C37.26-2014 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje (1000 V CA o menos)
• 2003 IEEE C37.26-2003 Guía de métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje
• 1971 IEEE C37.26-1971 Guía estándar para métodos de medición del factor de potencia para circuitos de prueba inductivos de bajo voltaje