NF EN 62132-8:2013
Circuitos integrados - Medición de inmunidad electromagnética - Parte 8: medición de inmunidad radiada - Método de línea de placa TEM para circuito integrado

Estándar No.

NF EN 62132-8:2013

Fecha de publicación

2013

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 62132-8:2013

NF EN 62132-8:2013 Historia

• 2013 NF EN 62132-8:2013 Circuitos integrados - Medición de inmunidad electromagnética - Parte 8: medición de inmunidad radiada - Método de línea de placa TEM para circuito integrado