IEC 62951-4:2019
Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores flexibles y estirables - Parte 4: Evaluación de la fatiga para una película delgada conductora flexible sobre el sustrato para dispositivos semiconductores flexibles
- Estándar No.
- IEC 62951-4:2019
- Fecha de publicación
- 2019
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62951-4:2019
- Alcance
- Esta parte de IEC 62951 especifica un método de evaluación de las propiedades de fatiga por flexión de películas delgadas conductoras y sustratos flexibles para su aplicación en dispositivos semiconductores flexibles. Las películas incluyen cualquier película depositada o unida sobre un sustrato flexible no conductor, tal como una película metálica delgada, un electrodo conductor transparente y una película delgada de silicio utilizada para dispositivos semiconductores flexibles. Se evalúan los comportamientos eléctricos y mecánicos de las películas sobre el sustrato. Los métodos de prueba de fatiga incluyen la prueba de fatiga por flexión dinámica y la prueba de fatiga por flexión estática.
IEC 62951-4:2019 Historia
- 2019 IEC 62951-4:2019 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores flexibles y estirables - Parte 4: Evaluación de la fatiga para una película delgada conductora flexible sobre el sustrato para dispositivos semiconductores flexibles
