BS EN 60749-43:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para los planes de calificación de confiabilidad de circuitos integrados.

Estándar No.

BS EN 60749-43:2017

Fecha de publicación

1970

Organización

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Ultima versión

BS EN 60749-43:2017

BS EN 60749-43:2017 Historia

• 1970 BS EN 60749-43:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para los planes de calificación de confiabilidad de circuitos integrados.