Este informe describe un método de medición de resistencia de semiconductores que utiliza niveles de energía controlados y un osciloscopio de procesamiento digital para adquirir y procesar datos de prueba.
SAE AIR1921-1994 Historia
1994SAE AIR1921-1994 MEDICIÓN DE LA RESISTENCIA DEL SEMICONDUCTOR DEL ENCENDEDOR DE CHISPA UTILIZANDO NIVELES DE ENERGÍA CONTROLADOS
1985SAE AIR1921-1985 Medición de la resistencia de semiconductores del encendedor de chispa utilizando niveles de energía controlados