SJ/T 10805-2018
Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 10805-2018

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2018

Organización

工业和信息化部

Ultima versión

SJ/T 10805-2018

Reemplazar

SJ/T 10805-2000

SJ/T 10805-2018 Historia

• 2018 SJ/T 10805-2018 Método de prueba del comparador de voltaje de circuito integrado semiconductor
• 2000 SJ/T 10805-2000 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de métodos de medida para comparadores de tensión.
• 1970 SJ/T 10805-1996 Circuitos integrados semiconductores utilizados como circuitos de interfaz. Principios generales de los métodos de medición de comparadores de voltaje.