UNE-EN 60749-44:2016
Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

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2016

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UNE-EN 60749-44:2016 Historia

• 2016 UNE-EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)