IEEE Std C62.35-2010
Métodos de prueba estándar IEEE para componentes de dispositivos semiconductores de protección contra sobretensiones de unión de avalanchas
- Estándar No.
- IEEE Std C62.35-2010
- Fecha de publicación
- 2010
- Organización
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Estado
- 2018-12
- Remplazado por
- IEEE Std C62.35-2010/COR 1-2018
- Ultima versión
- IEEE Std C62.35-2010/COR 1-2018
- Alcance
- En esta norma se analizan los diodos de ruptura de avalancha utilizados para la protección contra sobretensiones en sistemas con voltajes iguales o inferiores a 1000 V rms o 1200 V CC. El supresor de sobretensiones del diodo de ruptura de avalancha es un diodo semiconductor que puede funcionar en dirección directa o inversa de su característica Vl. Este componente es un paquete único, que puede ensamblarse a partir de cualquier combinación de s...
IEEE Std C62.35-2010 Historia
- 2018 IEEE Std C62.35-2010/COR 1-2018 Métodos de prueba estándar IEEE para componentes de dispositivos semiconductores de protección contra sobretensiones de unión de avalanchas - Corrigendum 1
- 2010 IEEE Std C62.35-2010 Métodos de prueba estándar IEEE para componentes de dispositivos semiconductores de protección contra sobretensiones de unión de avalanchas
- 0000 IEEE Std C62.35-1987(R1993)
- 1989 IEEE Std C62.35-1987 Especificaciones de prueba estándar IEEE para dispositivos de protección contra sobretensiones de semiconductores de unión de avalanchas
