European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Ultima versión
EN IEC 60749-18:2019
Alcance
IEC 60749-18:2019 está disponible como IEC 60749-18:2019 RLV que contiene la norma internacional y su versión Redline, que muestra todos los cambios del contenido técnico en comparación con la edición anterior. IEC 60749-18:2019 proporciona un procedimiento de prueba para definición de requisitos para probar circuitos integrados semiconductores empaquetados y dispositivos semiconductores discretos para los efectos de la radiación ionizante (dosis total) de una fuente de rayos gamma de cobalto-60 (60Co). Se pueden utilizar otras fuentes de radiación adecuadas. Este documento aborda únicamente las irradiaciones en estado estacionario y no es aplicable a las irradiaciones de tipo pulso. Está destinado a aplicaciones militares y aeroespaciales. Es una prueba destructiva. Esta edición incluye los siguientes cambios técnicos significativos con respecto a la edición anterior:
——actualizaciones de las subcláusulas para alinear mejor el método de prueba con MIL-STD 883J, método 1019, incluido el uso de pruebas mejoradas de sensibilidad a tasas de dosis bajas (ELDRS);
——adición de una bibliografía, que incluye normas ASTM relevantes para este método de prueba.
EN IEC 60749-18:2019 Historia
2019EN IEC 60749-18:2019 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiaciones ionizantes (dosis total).