ASTM E1994-09(2018)
Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
- Estándar No.
- ASTM E1994-09(2018)
- Fecha de publicación
- 2018
- Organización
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- Estado
- Remplazado por
- ASTM E1994-09(2023)
- Ultima versión
- ASTM E1994-09(2023)
- Alcance
- 1.1 Esta práctica es principalmente una declaración de principios para guiar a los comités técnicos de ASTM y otros en el uso del límite de calidad saliente promedio, AOQL, y el porcentaje de tolerancia de lote defectuoso, LTPD, planes de muestreo para determinar la aceptación de lotes de producto. 1.2 Esta norma internacional fue desarrollada de acuerdo con los principios de estandarización reconocidos internacionalmente establecidos en la Decisión sobre Principios para el Desarrollo de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del Comercio.
ASTM E1994-09(2018) Documento de referencia
- ASTM E178 Práctica estándar para abordar observaciones atípicas
- ASTM E456 Terminología estándar relacionada con la calidad y las estadísticas
ASTM E1994-09(2018) Historia
- 2023 ASTM E1994-09(2023) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
- 2018 ASTM E1994-09(2018) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
- 2009 ASTM E1994-09(2013) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
- 2009 ASTM E1994-09 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
- 2008 ASTM E1994-08 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
- 1998 ASTM E1994-98(2003) Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
- 1998 ASTM E1994-98 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
