Esta práctica describe los componentes esenciales del espectrómetro DCP. Esta descripción permite al usuario o potencial usuario obtener una comprensión básica de este sistema. También proporciona un medio para comparar y evaluar este sistema con sistemas similares, así como comprender las capacidades y limitaciones de cada instrumento.1.1 Esta práctica describe los componentes de un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente continua (DCP). Esta práctica no intenta especificar tolerancias de componentes o criterios de rendimiento. Sin embargo, esta práctica intenta identificar factores críticos que afectan el sesgo, la precisión y la sensibilidad. Un posible usuario debe consultar con el proveedor antes de realizar un pedido para diseñar un protocolo de prueba para demostrar que el instrumento satisface todas las necesidades previstas. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hubiera, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. Las declaraciones de peligros específicas se dan en la Sección 9.
ASTM E1832-08 Historia
2017ASTM E1832-08(2017) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
2008ASTM E1832-08(2012) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
2008ASTM E1832-08 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
2003ASTM E1832-03 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión atómica de plasma de corriente directa
1996ASTM E1832-96e2 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de emisión óptica de plasma de corriente directa