1.1 Esta guía cubre métodos para calcular y calibrar aumentos de microscopios, aumentos fotográficos, aumentos de monitores de video, retículas de comparación de tamaño de grano y otras retículas de medición. Los microscopios de luz reflejada se utilizan para caracterizar las microestructuras de los materiales. Muchas decisiones de ingeniería de materiales pueden basarse en análisis cualitativos y cuantitativos de una microestructura. Es esencial que los aumentos del microscopio y las dimensiones de la retícula sean precisos. 1.2 La calibración utilizando estos métodos es tan precisa como los dispositivos de medición utilizados. Se recomienda que el micrómetro de platina o la escala utilizada en la calibración sean rastreables hasta el Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST) o una organización similar. 1.3 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad, salud y medio ambiente y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. 1.4 Esta norma internacional fue desarrollada de acuerdo con los principios internacionalmente reconocidos sobre estandarización establecidos en la Decisión sobre Principios para el Desarrollo de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del Comercio.
ASTM E1951-14(2019) Documento de referencia
ASTM E112 Métodos de prueba estándar para determinar el tamaño promedio de grano
ASTM E7 Terminología estándar relacionada con la metalografía*, 2022-10-01 Actualizar
ASTM E1951-14(2019) Historia
2019ASTM E1951-14(2019) Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
2014ASTM E1951-14 Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
2002ASTM E1951-02(2007) Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
2002ASTM E1951-02 Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
2001ASTM E1951-01 Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
2001ASTM E1951-98 Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos