European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Ultima versión
EN 60444-6:2013
Alcance
IEC 60444-6:2013 se aplica a las mediciones de dependencia del nivel de excitación (DLD) de unidades de cristal de cuarzo. Se describen dos métodos de prueba y un método referencial. Esta edición incluye los siguientes cambios técnicos significativos con respecto a la edición anterior: a) La medición DLD con circuito de oscilación contaba con el método tradicional para detectar los modos anormales DLD en la actualidad. Por lo tanto, este método hizo la transición al Anexo B. b) Actualmente se necesita una unidad de cristal de alta confiabilidad para diversas aplicaciones; para mejorar las capacidades de inspección para modos anormales DLD, se utilizó el método de medición de referencia de niveles múltiples. introducido en esta especificación.
EN 60444-6:2013 Historia
2013EN 60444-6:2013 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 6: Medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD)
1997EN 60444-6:1997 Medición de los parámetros de la unidad de cristal de cuarzo Parte 6: Medición de la dependencia del nivel de accionamiento (DLD)