IEEE N42.31-2003
Procedimientos de medición para la resolución y eficiencia de detectores semiconductores de radiación ionizante de banda ancha

Estándar No.

IEEE N42.31-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Ultima versión

IEEE N42.31-2003

Alcance

Prólogo Se han establecido procedimientos estándar de medición y prueba para detectores de semiconductores de banda prohibida amplia, como telururo de cadmio (CdTe) @ telururo de cadmio-zinc (CdZnTe) @ y yoduro de mercurio (HgI2), que se pueden utilizar a temperatura ambiente para la detección y caracterización cuantitativa de rayos gamma@rayos X@ y partículas cargadas. Se incluyen terminología estándar y descripciones de las características principales de los detectores. En esta norma se incluye un anexo sobre interferencias de ruido electromagnético, que es un factor en dichas mediciones. El propósito de esta norma es establecer terminología y procedimientos de prueba que tengan el mismo significado tanto para los fabricantes como para los usuarios. No todas las pruebas descritas en esta norma son obligatorias, pero aquellas utilizadas para especificar el desempeño deben realizarse de acuerdo con los procedimientos aquí descritos. (El uso de la palabra "deberá" indica un requisito obligatorio @ "debe" uno físico @ y "debería" significa "recomendado".) Alcance Esta norma se aplica a los detectores de radiación semiconductores de banda ancha @ tales como telururo de cadmio (CdTe)@ telururo de cadmio-zinc (CdZnTe@ denominado en el presente documento CZT)@ y yoduro mercúrico (HgI2) utilizados en la detección y medición de radiación ionizante a temperatura ambiente; Los rayos gamma@rayos X@ y las partículas cargadas están cubiertos. Los procedimientos de medición descritos en este documento se aplican principalmente a elementos detectores que tienen geometrías planas, semiesféricas u otras en las que los portadores de carga de ambas polaridades contribuyen a la señal de salida. Cuando los dispositivos son parte integral de un sistema@, es posible que un usuario no pueda realizar pruebas solo en el detector. En este caso las pruebas sobre el elemento detector deberán establecerse de mutuo acuerdo entre el fabricante y el usuario.

IEEE N42.31-2003 Historia

• 2003 IEEE N42.31-2003 Procedimientos de medición para la resolución y eficiencia de detectores semiconductores de radiación ionizante de banda ancha