BS IEC 63229:2021
Dispositivos semiconductores. Clasificación de defectos en la película epitaxial de nitruro de galio sobre sustrato de carburo de silicio

Estándar No.

BS IEC 63229:2021

Fecha de publicación

2023

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS IEC 63229:2021

BS IEC 63229:2021 Historia

• 2023 BS IEC 63229:2021 Dispositivos semiconductores. Clasificación de defectos en la película epitaxial de nitruro de galio sobre sustrato de carburo de silicio