NF EN 62047-3:2006
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: probetas estandarizadas de película delgada para ensayos de tracción.

Estándar No.

NF EN 62047-3:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 62047-3:2006

NF EN 62047-3:2006 Historia

• 2006 NF EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: probetas estandarizadas de película delgada para ensayos de tracción.