KS C IEC 60749-2:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión de aire.
Inicio
KS C IEC 60749-2:2020
Estándar No.
KS C IEC 60749-2:2020
Fecha de publicación
2020
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Ultima versión
KS C IEC 60749-2:2020
KS C IEC 60749-2:2020 Historia
2020
KS C IEC 60749-2:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión de aire.
2004
KS C IEC 60749-2:2004
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 2: Baja presión de aire
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