KS C IEC 60749-6-2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.

Estándar No.

KS C IEC 60749-6-2020

Fecha de publicación

2020

Organización

KR-KS

Ultima versión

KS C IEC 60749-6-2020

KS C IEC 60749-6-2020 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-6:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.
• 2004 KS C IEC 60749-6:2004 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura