NF C96-051*NF EN 62373:2006
Prueba de estabilidad de temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET)

Estándar No.

NF C96-051*NF EN 62373:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-051*NF EN 62373:2006

NF C96-051*NF EN 62373:2006 Historia

• 2006 NF C96-051*NF EN 62373:2006 Prueba de estabilidad de temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET)