IEEE/IEC 62860-2013
Métodos de prueba IEC/IEEE para la caracterización de transistores y materiales orgánicos.

Estándar No.

IEEE/IEC 62860-2013

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE/IEC 62860-2013

IEEE/IEC 62860-2013 Historia

• 1970 IEEE/IEC 62860-2013 Métodos de prueba IEC/IEEE para la caracterización de transistores y materiales orgánicos.