T/YXNX 004-2021
Determinación de la fase de mullita en refractarios de aluminio-silicio -Método de ajuste de espectro completo para difracción de rayos X (Versión en inglés)

Estándar No.

T/YXNX 004-2021

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2021

Organización

Group Standards of the People's Republic of China

Ultima versión

T/YXNX 004-2021

Alcance

Este método utiliza un difractómetro de rayos X para realizar un análisis de fase cualitativo para determinar todas las fases contenidas en la muestra, y utiliza software de computadora para realizar un ajuste de espectro completo en el difractómetro de rayos X para analizar cuantitativamente el contenido de fase de mullita del material refractario de aluminosilicato. .

T/YXNX 004-2021 Historia

• 2021 T/YXNX 004-2021 Determinación de la fase de mullita en refractarios de aluminio-silicio -Método de ajuste de espectro completo para difracción de rayos X