NF EN IEC 60749-10:2022
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto.

Estándar No.

NF EN IEC 60749-10:2022

Fecha de publicación

2022

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN IEC 60749-10:2022

NF EN IEC 60749-10:2022 Historia

• 2022 NF EN IEC 60749-10:2022 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto.