BS EN 60749-3:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Examen visual externo. normas y especificaciones

Alcance: ¿De qué trata BS EN IEC 60749-3: examen visual externo de dispositivos semiconductores? BS EN IEC 60749 es una norma internacional que cubre el examen visual externo de dispositivos semiconductores que facilita las pruebas, la clasificación y la aplicabilidad de los dispositivos semiconductores. El propósito de BS EN IEC 60749 es verificar que los materiales, el diseño, la construcción, las marcas y la mano de obra de un dispositivo semiconductor estén de acuerdo con el documento de adquisición aplicable. En BS EN IEC 60749, la inspección visual externa es una prueba no destructiva y es aplicable a todos los tipos de bultos. La prueba es útil para q...

BS EN 60749-3:2017 Historia

2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
0000 BS 6493-3:1986