NF EN IEC 60749-30:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 30: preacondicionamiento de componentes de montaje superficial no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad.

Estándar No.

NF EN IEC 60749-30:2020

Fecha de publicación

2020

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN IEC 60749-30:2020

NF EN IEC 60749-30:2020 Historia

• 2020 NF EN IEC 60749-30:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 30: preacondicionamiento de componentes de montaje superficial no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad.