GB/T 38976-2020 Método de prueba para la concentración de oxígeno en materiales de silicio: método de detección infrarroja por fusión de gas inerte (Versión en inglés)
Esta norma especifica el método para probar el contenido de oxígeno en materiales de silicio mediante fusión de gas inerte y tecnología infrarroja. Este estándar es adecuado para probar el contenido de oxígeno en silicio monocristalino y silicio policristalino con diferentes tipos de conductividad y diferentes rangos de resistividad. El rango de prueba es 2.5×1 510 cm-3 (0.05ppma) ~ 2.5×1018cm-3 (50ppma). Nota: El contenido de oxígeno en los materiales de silicio se mide en átomos por centímetro cúbico.
GB/T 38976-2020 Documento de referencia
GB/T 14264 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
GB/T 1557 Método de prueba para determinar el contenido de oxígeno intersticial en silicio mediante absorción infrarroja.
GB/T 38976-2020 Historia
2020GB/T 38976-2020 Método de prueba para la concentración de oxígeno en materiales de silicio: método de detección infrarroja por fusión de gas inerte