IEC 62951-2:2019
Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores flexibles y extensibles - Parte 2: Método de evaluación de la movilidad de los electrones, oscilación por debajo del umbral y tensión umbral de dispositivos flexibles

Estándar No.

IEC 62951-2:2019

Fecha de publicación

2019

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 62951-2:2019

IEC 62951-2:2019 Historia

• 2019 IEC 62951-2:2019 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores flexibles y extensibles - Parte 2: Método de evaluación de la movilidad de los electrones, oscilación por debajo del umbral y tensión umbral de dispositivos flexibles