GB/T 43226-2023
Método de prueba en el dominio del tiempo de error suave de un solo evento para circuitos integrados de semiconductores utilizados en aplicaciones aeroespaciales (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 43226-2023

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2023

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 43226-2023

GB/T 43226-2023 Historia

• 2023 GB/T 43226-2023 Método de prueba en el dominio del tiempo de error suave de un solo evento para circuitos integrados de semiconductores utilizados en aplicaciones aeroespaciales