DIN EN 60749-43:2018-05
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para planes de calificación de confiabilidad de circuitos integrados (IEC 60749-43:2017); Versión alemana EN 60749-43:2017 / Nota: Será reemplazada por DIN EN IEC 63287-1 (2020-06).
- Estándar No.
- DIN EN 60749-43:2018-05
- Fecha de publicación
- 2018
- Organización
- German Institute for Standardization
- Ultima versión
- DIN EN 60749-43:2018-05
DIN EN 60749-43:2018-05 Historia
- 2018 DIN EN 60749-43:2018-05 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para planes de calificación de confiabilidad de circuitos integrados (IEC 60749-43:2017); Versión alemana EN 60749-43:2017 / Nota: Será reemplazada por DIN EN IEC 63287-1 (2020-06).
- 1970 DIN EN 60749-43 E:2013-10
