KS C IEC 60749-2-2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión de aire.

Estándar No.

KS C IEC 60749-2-2020

Fecha de publicación

2020

Organización

KR-KS

Ultima versión

KS C IEC 60749-2-2020

KS C IEC 60749-2-2020 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-2:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión de aire.
• 2004 KS C IEC 60749-2:2004 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 2: Baja presión de aire