NF EN 60749-32:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: inflamabilidad de los dispositivos encapsulados en plástico (caso de una causa externa de ignición).

Estándar No.

NF EN 60749-32:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 60749-32:2003

NF EN 60749-32:2003 Historia

• 2003 NF EN 60749-32:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: inflamabilidad de los dispositivos encapsulados en plástico (caso de una causa externa de ignición).