ASTM E3084-17
Práctica estándar para caracterizar las irradiaciones de partículas de materiales en términos de pérdida de energía no ionizante (NIEL)

Estándar No.

ASTM E3084-17

Fecha de publicación

2017

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E3084-17(2022)e1

Ultima versión

ASTM E3084-17(2022)e1

Alcance

1.1 Esta práctica describe un procedimiento para caracterizar las irradiaciones de partículas de materiales en términos de pérdida de energía no ionizante (NIEL). NIEL se utiliza en la literatura publicada para caracterizar irradiaciones de partículas neutras y cargadas. 1.2 Aunque los métodos descritos en esta práctica se aplican a cualquier partícula y material objetivo para los cuales se conocen secciones transversales de desplazamiento (ver Práctica E521), esta práctica está diseñada para usarse en irradiaciones en las que los efectos de daño observados pueden correlacionarse con desplazamientos atómicos. Esto es cierto para algunos, pero no para todos, los efectos de la radiación en materiales electrónicos y fotónicos. 1.3 Se utilizan procedimientos análogos a este para el cálculo de desplazamientos por átomo (dpa) en irradiaciones de partículas cargadas (ver Práctica E521) o irradiaciones de neutrones (ver Práctica E693). 1.4 Se proporciona orientación sobre el cálculo de dpa de NIEL. 1.5 Los procedimientos relacionados con este se utilizan para el cálculo de la fluencia de neutrones equivalente a 1 MeV en materiales electrónicos (ver Práctica E722), pero en esa práctica se incluye el concepto de eficiencia de daño, basado en la correlación de los efectos de daño observados. 1.6 Se proporciona orientación sobre la conversión de NIEL en silicio a fluencia de neutrones monoenergéticos en silicio (ver Práctica E722), y viceversa. 1.7 La aplicación de esta norma requiere conocimiento de la fluencia de las partículas y la distribución de energía de las partículas cuya interacción conduce a daños por desplazamiento. 1.8 La correlación de los datos sobre los efectos de la radiación está fuera del alcance de esta norma. Una revisión exhaustiva (1)2 de los efectos del daño por desplazamiento en el silicio y su correlación con NIEL proporciona una guía adecuada que es aplicable a materiales semiconductores y dispositivos electrónicos.

ASTM E3084-17 Documento de referencia

• ASTM E170 Terminología estándar relacionada con las mediciones de radiación y la dosimetría
• ASTM E521 Práctica estándar para la simulación de daños por radiación de neutrones mediante irradiación de partículas cargadas
• ASTM E693 Práctica estándar para caracterizar la exposición a neutrones en hierro y aceros de baja aleación en términos de desplazamientos por átomo (DPA), E706(ID)
• ASTM E722 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de energía de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos

ASTM E3084-17 Historia

• 2022 ASTM E3084-17(2022)e1 Práctica estándar para caracterizar las irradiaciones de partículas de materiales en términos de pérdida de energía no ionizante (NIEL)
• 2017 ASTM E3084-17 Práctica estándar para caracterizar las irradiaciones de partículas de materiales en términos de pérdida de energía no ionizante (NIEL)