SJ/T 11820-2022
Requisitos técnicos y métodos de medición para equipos de prueba de parámetros de CC de dispositivos semiconductores discretos. (Versión en inglés)

Estándar No.
SJ/T 11820-2022
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2022
Organización
Professional Standard - Electron
Ultima versión
SJ/T 11820-2022
Alcance
Es adecuado para salida de voltaje CC y rangos de medición de voltaje CC que no excedan 0,01 V ~ 5 000 V, salida de corriente CC y rangos de medición de corriente CC que no excedan 1 nA ~ 10 A, y rangos de salida de corriente de pulso y medición de corriente de pulso que no excedan 10 A ~ Equipo de prueba de dispositivos discretos de 1 200 A

SJ/T 11820-2022 Historia

  • 2022 SJ/T 11820-2022 Requisitos técnicos y métodos de medición para equipos de prueba de parámetros de CC de dispositivos semiconductores discretos.



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